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IR分光光谱测试设备

XM 723H可见分光光度计采用低杂散光，高分辨率的单光束光路结构，良好的稳定性、重现性，操作简便，能更快速地完成测试，波长精度±1nm，重复性0.5nm。
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详情描述
参数

XM 723H可见分光光度计采用低杂散光，高分辨率的单光束光路结构，良好的稳定性、重现性，操作简便，能更快速地完成测试，波长精度±1nm，重复性0.5nm。
 

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